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硬件测试接口选择硬件在环(HIL)测试系统I/O接口

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选择硬件在环(HIL)测试系统I/O接口
概览
高性能模块化的I/O接口是构建成功硬件在环测试系统所必须的。硬件在环(HIL)测试系统体系结构教程讨论了多种硬件在环测试系统体系结构和用于实现的实时处理技术。本教程讨论了多种I/O接口选项,能够用于实时处理器创建您的硬件在环测试系统。

多功能I/O
硬件在环测试系统需要多种模拟、数字和计数器/定时器接口与被测电子控制单元(ECU)进行交互。NI多功能数字采集产品将所有功能集成在单个设备 中,为硬件在环测试系统I/O接口提供了高价值的选择。高性能模拟数字和数字模拟转换器结合了用于计数器/定时器功能和与实时处理器之间进行低延时数据传 输的板载处理能力,让这些接口成为硬件在环测试系统应用的理想选择。

基于FPGA的I/O
基于NI现场可编程门阵列(FPGA)的I/O将模拟I/O以及数字I/O与FPGA整合在单个仪器中。这些设备使用NI可重复配置I /O(RIO)FPGA技术,它提供了用于可编程的FPGA功能,可以用于创建定制I/O功能并减少实时处理器进行模型执行和信号处理的负荷,从而提高硬 件在环测试系统的性能。使用NI LabVIEW FPGA模块,您可以定义您自己的硬件特性,而无需具备硬件描述语言的深入知识。


确定性分布式I/O

NI提供了全新的确定性分布式I/O产品,帮助您创建基于I/O的分布式硬件在环测试系统,降低布线成本和复杂性。从一系列I/O模块中进行选择,创建分布式I/O接口通过确定性的以太网与您的实时处理器进行通信。

总线接口
许多ECU使用通信总线接口与系统中的其他设备共享信息。NI提供了多种军事/航天、汽车和工业总线接口,您还可以使用基于NI FPGA的I/O接口为您的硬件在环测试系统实现定制协议。
NI AIM PXI模块的选择包含MIL-STD-1553、ARINC 429以及AFDX接口。每个模块都带有板载应用程序支持的处理器、丰富的板载内存和IRIG-B时间代码生成器/解码器,满足硬件在环测试系统的需求。 基于PXI的模块能够使用PXI背板提供的高级定时与同步功能。

NI CAN与FlexRay接口基于通用API,使用集成数据库用于对FIBEX、.DBC和.NCD文件的信号进行导入和编辑。还提供了DeviceNet、Modbus、PROFIBUS、RS232、RS485和RS422接口。

寻找更多帮助您进行硬件在环测试系统开发的资源,或是了解其他人如何使用NI硬件在环平台获得成功。


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